整体高度集成

样品台可加热到200℃，加热精度0.1℃

可升级探针台模块，实现一机多用

Z轴升降精度高达0.5μm

显微镜双固定卡位，放大倍数可达900倍

该系列标配均采用手动控制，也可升级电动高精度控制

用于科研院校搭建测试系统，例：材料电学测试系统、光电探测器光电响应系统、光电Mapping测试系统、忆阻器与神经元系统

整体高度集成

保证稳定性的同时提高隔振性能，底部可升降隔振地脚，适用于多种测试环境

升级探针座扎针模块，实现一机多用

一体式显微支架，双卡位设计，保证设备操作状态下显微成像无抖动，提升稳定性

整体XY精密位移，不锈钢材质，保证精度，便于大范围调节显微观察位置查找样品

样品台XYR三轴精密调节，加热最高温度200℃，加热精度0.1℃

载玻片台XYZR四轴精密调节

该系列标配均采用手动控制，也可升级电动高精度控制

用于科研院校搭建测试系统，例：材料电学测试系统、光电探测器光电响应系统、光电Mapping测试系统、忆阻器与神经元系统