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TDH精密应用型探针台

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参数规格
产品展示
漏电精度测试

产品说明

半圆形探针架，可放置6个DC探针座
漏电精度100fA（吉时利2636B实测）
整体位移精度3μm
1微米以上电极/PAD使用
兼容高倍率电子显微镜/体式显微镜/金相显微镜等
探针台整体位移分辨率3μm，样品XYZR四维调节
用于科研院校搭建测试系统，例：材料电学测试系统、光电探测器光电响应系统、光电Mapping测试系统、忆阻器与神经元系统
全系列搭配显微镜XY精密移动功能，可以选配多种位移行程以及驱动形式

展示视频

整体集成度高，且测试方便简单，底座行程大，弥补了基础型的缺陷，可以满足多种测试应用，且可以升级射频探针台；优点：高性价比，应用面广，稳定性高；应用：一般用在高校/研究所科研实验是居多，以及科研型单位研发部；

通用参数

漏电精度 100fA（KEITHLEY2636B实测）	整体位移精度 3μm
标配针座精度 3μm（可升级成1μm/0.5μm）	针座数量标配3个（可升级6个）
接口形式 BNC/三同轴接口	背电极可以引出背电极

TDH精密应用型探针台

漏电流精度：10pA/100fa（屏蔽箱内）
1微米以上电极/PAD使用
加宽探针架，可以放置6个DC探针座/4个RF探针座
全系列搭配显微镜XY精密移动功能，可以选配多种位移行程以及驱动形式
探针台整体位移分辨率3μm，样品XYZR四维调节
用于科研院校搭建测试系统，例：材料电学测试系统、光电探测器光电响应系统、光电Mapping测试系统、忆阻器与神经元系统
优点：高性价比，应用面广，稳定性高；应用：一般用在高校/研究所科研实验是居多，以及科研型单位研发部

配合金相显微镜

	产品型号	样品台尺寸	样品台行程	位移精度	对比	单价	发货日期 	购物车
参数+	TDH-4	4英寸	110×110mm	3μm		联系客服	联系客服	加入购物车
参数+	TDH-6	6英寸	110×110mm	3μm		联系客服	联系客服	加入购物车
参数+	TDH-8	8英寸	203×203mm	3μm		联系客服	联系客服	加入购物车
参数+	TDH-12	12英寸	310×310mm	3μm		联系客服	联系客服	加入购物车

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