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  • 漏电精度测试
产品说明
  • 半圆形探针架,可放置6个DC探针座
  • 漏电精度100fA(吉时利2636B实测)
  • 整体位移分辨率3μm,样品台XYZR四维调节
  • 1μm以上电极/PAD使用
  • 兼容三目体视显微镜/单筒金相显微镜/金相显微镜等
  • 可引入光路,完成光电mapping等测试
  • 可升级射频探针台
  • 大尺寸机身结构,增强操作舒适度
  • 更大空间的针座平台,支持加载针卡,提升点针测试效率
  • 探针座采用进口交叉滚珠导轨,线性移动,无回程差设计
  • 全系列搭配显微镜XY精密移动功能,可以选配多种位移行程以及驱动形式
  • 多被用于科研院校搭建测试系统,例:材料电学测试系统、光电探测器光电响应系统、光电Mapping测试系统、忆阻器与神经元系统等等
展示视频

整体集成度高,且测试方便简单,底座行程大,弥补了基础型的缺陷,可以满足多种测试应用,且可以升级射频探针台;优点:高性价比,应用面广,稳定性高;应用:一般用在高校/研究所科研实验是居多,以及科研型单位研发部

通用参数
漏电精度
10pA(同轴线缆)、100fA(三同轴线缆)
整体位移精度
3μm
标配针座精度
3μm(可升级成1μm/0.7μm)
标配针座数量
3个(可放置6个DC探针座/4个RF探针座)
接口形式
香蕉插头、鳄鱼夹、BNC、SMA、N/三同轴
背电极
可以引出背电极
成像方式
电子显微镜、双目体式显微镜、金相显微镜、单筒金相显微镜、激光显微镜
电力需求
220VC,50-60HZ

TDH精密应用型探针台
  • 漏电流精度:10pA/100fa(屏蔽箱内)
  • 1微米以上电极/PAD使用
  • 加宽探针架,可以放置6个DC探针座/4个RF探针座
  • 全系列搭配显微镜XY精密移动功能,可以选配多种位移行程以及驱动形式
  • 探针台整体位移分辨率3μm,样品XYZR四维调节
  • 用于科研院校搭建测试系统,例:材料电学测试系统、光电探测器光电响应系统、光电Mapping测试系统、忆阻器与神经元系统
  • 优点:高性价比,应用面广,稳定性高;应用:一般用在高校/研究所科研实验是居多,以及科研型单位研发部

配合体式显微镜
产品型号 样品卡盘尺寸 样品X-Y行程 位移精度 对比 单价 发货日期 购物车
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TDH-12 12英寸 12英寸×12英寸 3μm
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