探针台
Probe Stations
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                                                 主体材质 
                                                表面镀金处理  | 
                                        
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                                                 针杆长度 
                                                38mm  | 
                                        
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                                                 针杆直径 
                                                0.5mm  | 
                                        
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                                                 可测电流范围 
                                                1fA~1A  | 
                                        
钨钢探针作为探针台的附件之一,主要用途是接触连接待测件电极,为半导体芯片的电参数测试提供一个导通条件,被广泛应用于半导体及光电等行业的测试。在探测过程中,半导体探针被当做一个电流源,将电流引入待测材料,然后从待测材料的另一侧将电流采集回来。通过这种方式,可以探测到待测材料中的电学现象,进而分析材料的电学特性参数。
                            镀金探针提高了探针的导电性,保证了测试结果的准确性。同时镀金还能防止探针表面氧化,进一步延长了探针的使用寿命。镀金探针表面光滑,不会对被测物件造成刮伤,确保了测试的可靠性。